【目次】
　 【弊社における、新技法による評価試験　①】
　　 【弊社における、新技法による評価試験　②】
　 【富士通クオリティラボによる　温度評価試験】
試験 データ ALC400 アルミ  
測定ロケーション ALC400R ALC400C ALC400L アルミR アルミC アルミL ご説明
0 56.1 56.1 57.4 55.5 56.3 64.6 R＝右
1 64.1 62.9 64.6 67.3 70.7 73.9 C=中央
2 69.3 68.6 69.6 77.3 84.6 81.2 L=左
3 72.1 72.6 72.6 82.4 93 85.3  
4 75.6 75.4 75.7 86.6 97.6 89.9  
5 82.6 79.7 81.9 94.1 103.8 97.8  
6 84.9 80.7 83.1 96.4 105.5 100  
7 80.4 78.4 78.4 91.5 100.2 93.6  
8 75.8 76.4 74.1 84.4 95.6 87.1  
9 74.6 74.7 73.1 81.3 91.8 84.6  

評価用LED基板　左：ALC400　右：アルミ
評価方法
1.0Aを10分間流し、10か所の測定ポイントで10分後の温度を測定した

測定ロケーション（赤線）
図を参照下さい

測定方法
図の赤線、0～9まで5mm間隔で測定した基板面積に対して、幅広く温度上昇を確認

新技法
特願番号2011－067328

新技法にて温度上昇試験を行った結果

アルミに比べ、相対的に「２５℃」の温度差が確認出来ました 熱拡散性が高いことは、熱の効率化が大変良くなるため、少電圧でも明るさが出せる効果があります 従って、電力のコスト削減・熱対策効果による部材の消耗（熱摩耗）が大幅に改善が出来ます

評価試験における今後の問題点
評価試験に採用している、CREE社製LEDチップは、高電圧1.5Aまで対応出来る優れたLEDチップです。

評価試験前に、使用する100個のLEDチップに対して、1Aの電流をかけ安定性を確認しました
2.74V～2.90Vの範囲でのバラツキは確認出来ています。

また、評価試験用に製作した基板においても、前ページに有ります様に、同じ素材においても温度上昇において微差が発生します。

CREE社製のLEDチップにあります放熱電極の面積は、1.3mm×2.3mmの範囲であるため、加工において新技法のインプラント部材と放熱電極の接合に微差が発生している為、効果が100％発揮出来ていないことが予測出来ます。

今後、これらの問題点を改善出来れば、今回の評価試験結果を上回る数字が期待出来ます。